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OES火花光電直讀光譜分析儀 化驗(yàn)OES火花光電直讀光譜分析機(jī)器設(shè)備ICAL標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)現(xiàn)單塊標(biāo)準(zhǔn)代替了傳統(tǒng)光譜儀的多塊標(biāo)準(zhǔn)試樣校準(zhǔn)過(guò)程，可以使每次用于標(biāo)準(zhǔn)化的時(shí)間節(jié)約30分鐘以上。

OES火花光電直讀光譜檢測(cè)儀器 OES火花光電直讀光譜檢測(cè)機(jī)器設(shè)備SPECTROMAXx中*的光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)部件有效融合，經(jīng)過(guò)嚴(yán)格密封，確保光室內(nèi)部一塵不染，雙光學(xué)系統(tǒng)設(shè)置使大波長(zhǎng)范圍擴(kuò)展至140nm--- 670nm。

OES火花光電直讀光譜檢測(cè)儀 OES火花光電直讀光譜檢測(cè)機(jī)器設(shè)備為分析性能和低運(yùn)行成本以及小維護(hù)需求而設(shè)計(jì) 全數(shù)字等離子發(fā)生器光源控制激發(fā)條件 堅(jiān)固的光學(xué)系統(tǒng)配備性能讀出系統(tǒng)

OES火花光電直讀光譜儀器 OES火花光電直讀光譜機(jī)器設(shè)備升級(jí)版的專(zhuān)有ICAL標(biāo)準(zhǔn)化系統(tǒng)可以有效校正儀器，漂移和光強(qiáng)變化。ICAL標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)現(xiàn)單塊標(biāo)準(zhǔn)代替了傳統(tǒng)光譜儀的多塊標(biāo)準(zhǔn)試樣校準(zhǔn)過(guò)程，可以使每次用于標(biāo)準(zhǔn)化的時(shí)間節(jié)約30分鐘以上。

OES火花光電直讀光譜儀 OES火花光電直讀光譜鋼鐵成分檢測(cè)機(jī)器設(shè)備各種異型大尺寸工件可以方便地測(cè)試。夾具用于小試樣分析。可以選配的小樣品分析工作曲線。

光譜環(huán)保測(cè)量?jī)x RoHS/WEEE模式:Cd、Cr、Pb、Hg、Br、Cl、Ca、、V、、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、As、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等30個(gè)元素。

光譜環(huán)保分析儀器 應(yīng)用于：歐洲、中國(guó)、日本、韓國(guó)RoHS/Weee 指令 ? 八大重金屬美國(guó)ASTM、歐洲EN-71、中國(guó)GB 6675－2007 ? 美國(guó)消費(fèi)產(chǎn)品安全法CPSIA/CPSC、美國(guó)EPEAT、美國(guó)GEC ? 美國(guó)消費(fèi)品安全改進(jìn)法案H.R. 4040。 ? 美國(guó)無(wú)鹵指令Halogen Free Directive等等

檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)光譜環(huán)保儀器設(shè)備 數(shù)據(jù)顯示：百分比（%）顯示元素含量，元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶(hù)自定義等方式排序,可統(tǒng)計(jì)多次測(cè)試的平均值,可接臺(tái)式電腦顯示;儀器在測(cè)試過(guò)程中同步動(dòng)態(tài)顯示化學(xué)成份。系統(tǒng)CPU外設(shè)：采用USB總線, I2C,GPIO, 藍(lán)牙, 加速器，實(shí)時(shí)的時(shí)鐘芯片，微型SD 存儲(chǔ)卡 （可存儲(chǔ)2GB 數(shù)據(jù)），GPIO 條帶連接到扳機(jī)和PSM 。